非接觸式光學輪廓儀CCI HD

• 更新時間：2020-04-29
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非接觸式光學輪廓儀CCI HD
CCI HD 是一種非接觸式光學 3D 輪廓儀，具有測量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有**的新型關聯(lián)算法，來查找由我們的精密光學掃描裝置產生的干涉圖的相干峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界**的非接觸式尺寸測量功能和良好的厚薄膜測量技術。

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非接觸式光學輪廓儀CCI HD

良好的白光干涉儀：

     。 2.2 mm垂直范圍，帶閉環(huán)無壓電Z軸掃描儀
     。 AutoStitch作為標準配置，可高分辨率測量大型零件
     。 2048 x 2048像素陣列用于高分辨率的大視野
     。 新型Claritas 20照明系統(tǒng)，角度靈敏度更高，可提高數(shù)據(jù)質量
 

提高數(shù)據(jù)質量：

     。 <0.2Åstrom RMS重復性，<0.1％臺階高度重復性
     。 FEA優(yōu)化的機械設計，具有出色的R＆R功能
     。 在整個測量范圍內的分辨率為0.1埃
     。 內置防振功能，可實現(xiàn)*佳數(shù)據(jù)質量

?丨白光干涉儀/非接觸式輪廓儀介紹：

CCI HD 是一種非接觸式光學 3D 輪廓儀，具有測量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有**的新型關聯(lián)算法，來查找由我們的精密光學掃描裝置產生的干涉圖的相干峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界**的非接觸式尺寸測量功能和良好的厚薄膜測量技術。

CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度測量功能，還可以提供兩種類型的膜厚測量。 近年來厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料；測量的厚度限制取決于材料的折射率和標的物的 NA。 測量較薄的涂層被證實為難度更高?，F(xiàn)在通過干涉測量法可以研究厚度至 50 納米（同樣取決于折射率）的薄膜涂層。 采用這種新型方法，可以在單次測量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。

無限的應用可能性：

表面的三個元素對于組件的功能至關重要。 的粗糙度能力與大面積測量，良好的數(shù)據(jù)分析（2D和3D）以及泰勒·霍布森（Taylor Hobson）的專業(yè)知識相結合，可提供業(yè)界**的計量技術。 許多用戶依靠CCI MP-HS解決其他儀器*無法處理的測量問題。憑借出色的量程、*高的分辨率以及操作簡便的優(yōu)勢，成為在眾多應用場合中研發(fā)和質量保證的理想工具。

篤摯儀器（上海）有限公司是德國菲希爾Fischer測厚儀，德國Elektrophysik（EPK）公司測厚儀，英國易高測厚儀，英國泰勒Taylor Hobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等的*專業(yè)經銷商。歷經市場洗禮和多年的拼搏積淀，篤摯儀器現(xiàn)已發(fā)展成為儀器儀表行業(yè)的的企業(yè)。我們對產品，不斷精益求精，提供符合客戶要求的物理表面檢測設備，客戶產業(yè)遍及石油、電力、鋼鐵、軌道交通、電子、半導體、航空、航天、軍工、實驗室、汽車…等科技產業(yè)，我們以客戶的需求作為思考的出發(fā)點。經歷多年來的努力, 公司人員披荊斬棘，以不懈的努力一路走來，人員，技術，服務日趨完善。